簡介

顆粒統計分析測量系統軟件可以輕松獲取、分析圖片,并生成報告。借助該軟件,用戶可以收集到大量亞微米顆粒的形貌和粒徑數據。憑借遠超光鏡的放大倍數,顆粒軟件全自動化的測量,可以把工業粉末的設計、研發和品管提升到一個新臺階。

借助顆粒系統軟件,用戶可隨時獲得數據。因此,它加快了分析速度,并提高了產品質量。

主要特點

  • 聯機或脫機分析;
  • 收集顆粒的屬性數據,例如當量直徑、圓度、長軸短軸比、凸包度等;
  • 借助超大視野拼圖軟件,可獲得大量顆粒的分析數據;
  • 先進的識別算法,用戶自由選擇默認設置或高級設置。

下載規格表

展示

案例分析

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