簡介

元素分析線面掃功能是 EID 軟件的一個可選項。元素分析線面掃功能可以揭示樣品中元素的面分布情況。用戶可以自定義像素分辨率和像素停留時間,進而獲得元素分布情況。實時面掃算法即時統計各像素的元素含量,實時顯示元素的面分布情況。因此,無論是面掃中還是面掃后,元素都可以隨時標定。

可以對整張圖像進行面掃,也可以對某個選定區域進行面掃,這樣更節省時間。選定一條直線,則可進行線掃描分析。

先設置以下三個主要參數:掃描像素數、像素停留時間和掃描循環次數。而后,即可輕松地輸出結果和生成報告。

主要特點

  • 快速、可靠地獲得樣品中元素的面、線分布信息;
  • 輸出結果、生成報告,簡單、便捷。

下載規格表

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案例分析

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