簡介

在槍支犯罪事件中,槍擊殘留物 GSR 的分析將發揮重要的作用。GSR 分析技術首先基于掃描電子顯微鏡 (SEM) 的背散射成像,用來掃描樣品和發現可疑的 “GSR” 顆粒。一旦發現可疑的顆粒,使用能譜(EDS)識別在該粒子中的元素。最常見的搜索元素為 Pb,Sb 和 Ba。無鉛底火的檢測,例如 Ti 和 Zn 也可最為搜索條件進行搜索。

Phenom GSR 飛納臺式掃描電鏡自動槍擊殘留物分析是全球首創在臺式掃描電鏡運行自動槍擊殘留物分析軟件。其設計基于飛納臺式掃描電鏡大樣品室卓越版 Phenom XL。軟件和硬件完全一體化,以提高用戶操作界面友好性,可靠性和分析速度。Phenom GSR 包括以下三個項目:自動槍擊殘留物分析和分類軟件包,BSED 和 EDS 探頭內部集成,校準試樣。

Phenom GSR 飛納臺式掃描電鏡自動槍擊殘留物分析配備 CeB6 燈絲,使其穩定運行,燈絲壽命不低于 1500 個小時,從可用性,適用性和運行時間的角度來看都非常理想。小于 1 分鐘的加載時間,和快速的全自動馬達樣品臺,使得飛納 GSR 成為高度自動化應用的理想工具,可以用來進行自動槍擊殘留物分析。

下載規格表

規格參數

 

Phenom GSR

光學放大

3 - 16 X

電子光學放大

80 - 100,000 X

分辨率

優于 20 nm

數字放大

Max. 12 X

光學導航相機

彩色

加速電壓

4。8 kV - 20。5 kV 連續可調

真空模式

高分辨率模式

降低核電效應模式

高真空模式

探測器

背散射電子探測器

二次電子探測器 (選配)

  下載飛納電鏡 Phenom GSR 手冊

 

展示

拓展軟件

樣品杯

案例分析

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