案例分析

相關產品

場發射掃描電鏡 Pharos

肖特基場發射電子源

分辨率優于 2 nm

 B(5)— Am(95)元素探測

無需噴金直接觀察絕緣體

內置真空鎖,15 s 抽真空

大樣品室卓越版 XL G2

最快的樣品加載速度

全自動馬達控制樣品臺

樣品倉大小 100 mm X 100 mm

背散射電子探測器(可拓展二次電子探測器)

可選配能譜儀

電鏡能譜一體機 ProX

電鏡能譜集成一體機(可拓展二次電子探測器)

放大倍數高達 15 萬倍,分辨率優于 8 nm

元素分析范圍 B(5)— Am(95)號

加速電壓 5-15 kV  連續可調

抽真空時間小于 15 秒

高分辨率專業版 Pro

基于 CeB6 燈絲的高分辨圖像

放大 150,000 倍,分辨率優于 8 nm

加速電壓 5-15 kV  連續可調

1500 小時燈絲壽命,2-3 年更換

抽真空時間小于 15 秒

高性價比標準版 Pure

經濟節約型

放大倍數 65,000 倍,分辨率優于 25 nm

1500 小時 CeB燈絲

抽真空時間小于 15 秒

全自動馬達樣品臺

清潔度分析 ParticleX TC

以臺式掃描電鏡和能譜儀為硬件基礎

全自動顆粒識別、分析和分類統計

無需人員值守,可連續運行

一鍵生成報告

輕松對重點顆粒重新查看和分析

增材制造評估 ParticleX AM

以臺式掃描電鏡和能譜儀為硬件基礎

全自動顆粒識別、分析和分類統計

無需人員值守,可連續運行

一鍵生成報告

輕松對重點顆粒重新查看和分析

槍擊殘留物分析 GSR

基于 CeB6 燈絲的高分辨圖像

直觀易用的 GSR 軟件

高吞吐量,一次性放置多達 36 個試樣

操作簡單,永不丟失導航系統,完全集成能譜儀

測量結果準確可靠,廣泛兼容法醫領域的各類應用

熒光電鏡一體機 CLEM

完全整合的光電關聯顯微鏡

使用簡單和快速的工作流程

占地小,無需特別的安裝環境

自動硅藻檢驗

快速硅藻檢驗

降低使用成本,提高工作效率

多種刑偵檢測用途(選配能譜儀)

全程導航定位和位置回溯功能

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